reflectivitymeasurement 相关硕士博士期刊学术论文 - 搜论网

reflectivitymeasurement相关论文

用X射线反射测量法表征双层结构中低原子序数材料的特性

介绍了用X射线反射测量术表征双层薄膜中低原子序数材料特性的方法.由于低原子序数材料的光学常数与Si基板材料的光学常数非常接近......

期刊

X射线衍射仪低原子序数材料反射率测试薄膜 XRD low-Z material reflectivity measurement thin films

看过本文同时还关注